TEM 常指 Transmission Electron Microscopy / Transmission Electron Microscope，即“透射电子显微镜（术）”：一种用电子束穿透超薄样品、在高分辨率下观察其内部微观结构的成像技术/仪器。（在不同语境中也可能是其他缩写。）
The lab uses TEM to study viruses.
实验室使用 TEM 来研究病毒。
Using TEM, researchers identified nanoscale defects in the alloy that explained its unexpected failure under stress.
研究人员利用 TEM 识别出合金中的纳米级缺陷，从而解释了它在受力下意外失效的原因。
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TEM 来自英文短语 Transmission Electron Microscopy（或 Microscope）的首字母缩写。该术语随电子显微学的发展在 20 世纪科学文献中逐步固定下来，用于与 SEM（扫描电子显微镜）等方法区分。
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